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試験研究用装置総合カタログ
（分光測光システム・超高速光検出器）の
最新版「2007年〜2008年版」が完成いたしました。
このカタログは、弊社の分光測光システム、超高速光検出器を網羅し、代表的なシステム価格等を掲載しています。
システム導入のご検討、ご予算申請等の資料としてお使いください。
尚、試験研究用装置総合カタログは、web上でのダウンロードは行っていません。
お客様のご請求により、発送させていただいております。
ご希望の方は、下の「メール送信」にてご請求ください。
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新製品紹介
（下記 製品がラインアップに加わりました。製品の詳細情報は、製品名称からのリンクにて見ることができます）
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LED測光・測色装置シリーズ
照明用白色LEDの「CIE平均化LED光度」「全光束」「配光分布」を測定する装置です。
必要なオプションを追加することにより、他の測定装置へアップグレードすることも可能です。
また、蛍光体の量子収率、LEDの発光効率および色評価まで対応可していくことができます。
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三次元形状計測装置 C10352-01
白色干渉法を用いた三次元形状計測装置です。
MEMSデバイスの各面の平坦度や深さ形状、バンプ間隔など計測において0.1 μm以上の高い計測精度要求に応えます。
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試験研究用装置総合カタログのご請求、お問い合わせ、ご質問は、システム営業部まで
〒431-3196 浜松市東区常光町812
TEL:(053)431-0150(営業直通）
FAX:(053)433-8031
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