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光学式ピンホール検出ユニット


PH-100


光学式ピンホール検出ユニット

電子部品・ディスプレイなどの小型・軽薄化に伴い、構成材料である金属(アルミ)シートや、有機系フィルム等にもさらなる「軽薄化」や「精密成型」の要求が高まってきています。これによって生じるピンホールも、ますます多様化・微小化するため、検査スピードを保持しつつ、検出精度をさらに向上させる新たなピンホール検出技術の導入が重要になってきます。
ここで紹介する光学式ピンホール検査ユニットは、高感度光センサである光電子増倍管を応用しているため、従来では検出が困難であった極微小なピンホールまで高速かつ高感度に検出することが可能です。今後ますます高まるであろう品質向上への要求に最適な技術として「光学式ピンホール検査」をお勧めします。


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光学式ピンホール検査ユニット
*検査対象物は光を透過しない素材、ピンホールは貫通孔に限定されます。
*ピンホールの個数・大きさ・位置の特定はできません。
*対象材料の大きさ・形状に合わせた専用遮光治具が必要になります。

特長

極微小ピンホールの検出が可能
 高感度光センサを検出器に採用しているため、微小なピンホールから漏れた、微かな光も逃さず検知。CCD画像解析で捕えられないミクロなピンホール検出に最適です。測定可能なピンホール径は、素材厚さ、形状、タクトタイムによって異なります。そのため、お客様のご要望をお伺いした上で、最適な仕様をご提案させていただきます。
 (例:50μm厚の金属フィルムにて、5μm径のピンホールを300msで検出可能)

サンプルにストレスを与えない非接触検査方式
 光検知方式ですので非接触検査が可能。気体や液体によるストレスや電界・磁場・電解液など、特定環境に測定物をさらすことなくピンホール検査が行えます。

成形物のサンプルも検査が可能
 成形物の側面にあるピンホールや斜めのピンホール等、CCD画像解析では捕らえにくいピンホールも検出可能です。


大面積一括検査が可能
 検出部に新開発「大面積平面光学系」を採用。広い面積を一括検査可能なため、タクトタイムの向上を可能にします。

用途別応用例

ワークの厚み・周囲照度により、検出ピンホールサイズは異なります。
















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