サンプリング型光オシロスコープ

　サンプリング型光オシロスコープC8188シリーズは、半導体レーザ等の高速時間応答特性や、光ファイバの伝送特性など、高速光信号の評価を行うための装置です。当社独自のサンプリング技術により受光から信号処理までを一括して行うため、波形歪みが生じません。
　20 GHz以上の帯域を持つ広周波数帯域バージョン（C8188-01、C8188-11）では、半導体レーザのパルス特性の評価やガラスファイバの伝送特性評価等にご利用いただくことができます。また、1.0 mm以上の受光面サイズを持つ広受光面バージョン（C8188-03)は、その大面積を利用してPOF（プラスチック光ファイバ）の全光束を測定することができます。POFの帯域測定やシステム評価に最適な測定機器としてご利用いただけます。

製品カタログ（PDF388KB）

製品説明

特　長
●  波形歪みがほとんどありません。
●  20  GHz以上の高帯域測定（C8188-01、C8188-11）
●  1.0  mm以上の大受光面サイズ（C8188-03）
●  測定が簡単
●  Windowsコンピュータによる制御

応　用
●  半導体レーザや高速応答光源の応答特性評価・検査
●  光ファイバの伝送特性評価
●  光リンクシステムの特性評価