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製品情報 > 光センサ（電子管製品） > 光学式ピンホール検査ユニット > 光学式ピンホール検査ユニット

光学式ピンホール検出ユニット

PH-100

ピンホール(微孔)検査を光学式ユニットで実現しました。従来は検出が困難であった極微小なピンホールまで高速かつ高精度に検出することが可能です。包装素材・シート素材の品質向上など、今後さらに高まるピンホール検出の微小化への要求に最適な装置です。

	PH-100 (PDF 260kB)


	製品説明仕様


	製品説明

光学式ピンホール検査ユニット概要

電子部品・ディスプレイなどの小型・軽薄化に伴い、構成材料である金属（アルミ）シートや、有機系フィルム等にもさらなる「軽薄化」や「精密成型」の要求が高まってきています。これによって生じるピンホールも、ますます多様化・微小化するため、検査スピードを保持しつつ、検出精度をさらに向上させる新たなピンホール検出技術の導入が重要になってきます。
PH-100は光学式の高速・微小ピンホール検査ユニットです。従来検出が困難であった極微小なピンホールまで高速かつ、高精度に検出することが可能です。今後ますます高まるであろうピンホール検出の微小化への要求に最適な技術として「光学式ピンホール検査」をお勧めします。
　＊検査対象物は光を透過しない素材、ピンホールは貫通孔に限定されます。
　＊本ユニットではピンホールの個数・大きさ・位置の特定はできません。
　＊対象材料の大きさ・形状に合わせた専用遮光治具が必要になります。

特長

■極微小ピンホールの検出が可能
　高感度光センサを検出器に採用しているため、微小なピンホールから漏れた、微かな光も逃さず検知。CCD画像解析で捕えられないミクロなピンホール検出に最適です。測定可能なピンホール径は、素材厚さ、形状、タクトタイムによって異なります。そのため、お客様のご要望をお伺いした上で、最適な仕様をご提案させていただきます。
　（例：50μm厚の金属フィルムにて、5μm径のピンホールを300msで検出可能）

■サンプルにストレスを与えない非接触検査方式
　光検知方式ですので非接触検査が可能。気体や液体によるストレスや電界・磁場・電解液など、特定環境に測定物をさらすことなくピンホール検査が行えます。

■成形物のサンプルも検査が可能
　成形物の側面にあるピンホールや斜めのピンホール等、CCD画像解析では捕らえにくいピンホールも検出可能です。

■大面積一括検査が可能
　検出部に新開発「大面積平面光学系」を採用。広い面積を一括検査可能なため、タクトタイムの向上を可能にします。


	仕様

ピンホール最小検出サイズ	5 μm
サンプルサイズ (Max.)	215 x 115 x 10(H) mm
測定時間	0.3 秒
アナログ出力表示	4・1/2桁（1.999V）
入力電圧	100 (50/60Hz) Vac
最大消費電力	40 VA
外形寸法	250(W) x 100(H) x 350(D) mm
質量	7 kg

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光学式ピンホール検出ユニット

PH-100

製品説明

仕様