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半導体レーザFFP測定システム
半導体レーザのFFPを測定するシステムです。半導体レーザのビーム広がり角、Ｎ.Ａ.等を高速に二次元解析します。半導体レーザFFP測定システムでは、独自の専用光学系とデジタルCCDカメラにより半導体レーザのビーム広がり角を二次元画像として取得します。画像中心が光学系光軸に対して0°の光強度であり、端に行くに従って広がった角度の光強度となります。
製品カタログ(PDF 1.97MB)
製品説明
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