半導体レーザNFP測定システム　

　半導体レーザのNFPを測定するシステムです。半導体レーザのビーム径、強度分布、楕円率、ビーム位置等を解析します。半導体レーザNFP測定システムでは、高倍率の拡大光学系とデジタルCCDカメラを用いて半導体レーザの発光点に焦点を合わせNFP画像を取得します。測定・解析の結果としては、XYプロファイルデータ、二次元等輝度線表示、三次元表示およびビームパラメータが表示されます。

製品カタログ(PDF1.97MB)

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