半導体レーザNFP測定システム　

　半導体レーザダイオード（LD)からのビームをレンズで絞ったり、ファイバ等へ導く場合、半導体レーザのNFP(ニアフィールドパターン)の把握が重要です。NFPは、そのサイズが極めて微小なため、計測には500倍の拡大光学系を使用しています。一般的に高倍率ではカメラの計測視野が極めて狭くなりますので、計測開始時の位置合わせが困難です。この問題を解決するために、NFP光学系 A4859-01では、計測光路と同軸上に倍率12.5 倍の位置合わせ光路を設けています。これによりビーム検出が容易となり、迅速な計測を行うことができます。

Applicatuon Note PDF(552KB)

製品説明

特　長
●  拡大倍率500  倍の光学系を用い、NFPを正確に計測
●  位置合わせ光路を設け、測定位置合わせを迅速化

検出対象
●  LD　●  LED　●  光ファイバ　●  導波路
測定項目
●  ビーム径　●  楕円率　●  ビーム位置　●  強度分布