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光ピックアップビーム測定システム
CDやDVD装置に用いられる集光位置でφ0.5 μm程度にまで絞られたピックアップからの微小ビームを計測します。構成図は、拡大倍率2000倍の光学系(NFP光学系 A4859-02)を用いてピックアップからの微小ビームを正確に計測するシステムです。一般的に2000倍の倍率では、カメラの計測視野が狭く、計測開始時の位置合わせが困難です。この問題を解決するために、A4859-02では、計測光路と同軸上に倍率25 倍の位置合わせ光路を設けています。これによりビーム検出が容易となり、迅速な計測を行うことが可能です。
LEPAS-12を用いた光ピックアップビーム測定システムでは、5 nmの高分解能読み取りが可能で従来のアナログカメラタイプに比べ高いダイナミックレンジを実現しています。
製品カタログ(PDF305KB)
製品説明
関連製品
製品説明
特 長
● 拡大倍率2000 倍の光学系で、φ0.5 μmのピックアップからの微小ビームを正確に計測
● 400 nmから780 nm波長範囲に対応
● 次世代の青色LDを用いたピックアップまで計測可能
検出対象
● CDピックアップ ● DVDピックアップ
測定項目
● ビーム径 ● 楕円率 ● 強度分布
関連製品
レーザビームプロファイラ
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