半導体レーザFFP測定システム　

　半導体レーザダイオード(LD)からのビームをレンズで絞ったり、ファイバ等へ導く場合、半導体レーザのFFP(ファーフィールドパターン）.を把握しておくことが重要です。従来、半導体レーザのFFP測定は、ライン状のデータしか得られないことや計測に時間がかかること、パルス光を計測できない等の問題がありました。FFP光学系 A3267-12は、入射ビームの広がり角度分布を位置の分布に変換することができますので、カメラを接続することにより、瞬時に三次元的なFFPを得ることができます。

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製品説明

特　長
●  瞬時に三次元的なFFPを計測
●  入射ビームの広がり角度分布を位置の分布に変換可能
●  パルス光にも対応
●  青色専用のFFP光学系をラインアップ

検出対象
●  LD　●  光ファイバ　●  導波路
測定項目
●  ビーム広がり角　●  N.A.