光ビームパラメータ評価

光ビーム計測システムの核となる製品です。専用光学系・カメラと組み合わせ、多彩な光ビーム解析を可能にします。

LEDのパルス点灯時の発光状態を１パルスごとに測定、さらに1パルス内を時間分解しての測定も可能です。

拡大倍率500 倍の光学系を用いNFP(ニアフィールドパターン)を正確に計測します。高倍率の拡大光学系用いながら容易で正確な位置合わせを実現しています。

従来方式では、ライン状のデータしか得られないことや計測に時間がかかること等の問題があったFFP(ファーフィールドパターン）を瞬時に正確に計測します。

ファイバの基本的パラメータの一つであるN.A.を二次元的に瞬時に求めることができます。

拡大倍率2000倍の光学系を用いてピックアップからの微小ビームを正確に計測します。高倍率の拡大光学系用いながら容易で正確な位置合わせを実現しています。

高出力レーザ測定システムは、大出力レーザのビーム形状を計測する装置です。大出力ビームを減光するＡ6503-06と空間上の任意位置での形状を計測するＡ6503-04、-07を組み合わせ測定します。

空間ビーム計測システムは、紫外域から可視域の空間ビーム分布などのビーム特性を
計測するシステムです。FOPスクリーン光学系システムとエキシマレーザ用光学系シス
テムをラインアップしています。

ファイバコリメータを製造する場合、極めて微妙な調整を必要とするファイバとレンズの位置を評価するシステムです。