低電圧化した先端LSIの動作タイミングを世界で初めて、2次元でダイナミックに解析する新製品「ピコ秒時間分解エミッション顕微鏡・TriPHEMOS」12月1日から開催の「セミコン・ジャパン2004」に出展

2004年11月

当社は、半導体デバイスの故障解析用のエミッション（発光）顕微鏡「PHEMOS（フィーモス）」シリーズに、低電圧化した先端LSIの動作タイミングを、世界で初めて2次元画像でダイナミックに解析する新製品「ピコ秒時間分解エミッション顕微鏡・TriPHEMOS（Time resolved Imaging emission microscope、トライフィーモス）」をラインナップし、来年1月20日から受注を開始します。尚、当製品は、12月1日（水）から幕張メッセ（千葉市）で開催される「セミコン・ジャパン2004」に出展します。