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浜松ホトニクス
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展示会レポート




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第19回マイクロマシン/MEMS展
浜松ホトニクスブースのご案内


浜松ホトニクスの展示ブース

浜松ホトニクスの展示ブース
2008年7月30日(水)から8月1日(金)までの3日間、東京ビッグサイトにて「第19回マイクロマシン/MEMS展」が開催され、浜松ホトニクスでは、マイクロマシン技術を支援する、新しいレーザダイシング技術「ステルスダイシング」とMEMSなどの三次元形状を瞬時に計測可能な「三次元形状計測装置」、光干渉式膜厚測定装置「Optical NanoGauge」をご紹介いたしました。
会期中は多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました。出展製品に関してご質問・ご要望等ございましたら、どうぞお気軽にお問い合わせください。今後も各製品のラインアップの充実を図り、お客様のニーズにお応えしてまいります。

展示会概要



展示会名
第19回マイクロマシン/MEMS展
会期・時間
2008年7月30日(水)~8月1日(金)
会場
公式ウェブサイト
弊社お問い
合わせ先
 
弊社の出品製品に関するお問い合わせは、各製品の項の「製品に関するお問い合わせ」からお気軽にお寄せください。

主な展示製品



ステルスダイシング技術


チップ全体

エッジ部周辺拡大

ステルスダイシング加工適用
MEMSチップのSEM観察
(上)チップ全体
(下)エッジ部周辺拡大
完全ドライの次世代カッティング技術!「ステルスダイシング」
「ステルスダイシング」は、ダイシング工程の完全ドライプロセス化を実現した、全く新しい概念のレーザダイシング技術です。
洗浄水やコンタミネーションから、脆弱な構造体を保護する設計上の制約を完全排除し、MEMSデバイスのダイシング工程の問題を解決します。
既に、同装置は自動車や携帯電話向けのMEMSデバイスの量産工場で運用が始まっています。

三次元形状計測装置 C10352-01


三次元形状計測装置

三次元形状計測装置
MEMSを代表とする微小部品の三次元形状を瞬時に計測
白色干渉法を利用した非接触の形状計測装置です。MEMSなどの三次元形状を、サンプルを傷つけることなく瞬時に計測し、断層、段差の解析が行えます。

Optical NanoGauge(光干渉式膜厚測定装置)
C10178/C10323


Optical NanoGauge

Optical NanoGauge
分光干渉法を利用し、非接触・高精度で膜厚を測定
20 nm~50 μmの膜厚を簡単操作で非接触・リアルタイムで測定。
ファイバ光学系を利用した反射光学系により、インライン測定にも対応可能なマクロ計測用(C10178)と微小領域測定に適したミクロ計測用(C10323) を用意しています。






浜松ホトニクス株式会社
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